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AFM探针目录
接触模式 (Cont) AFM探针

接触模式 (Cont) AFM探针

接触模式 (Cont) AFM探针

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PPP-CONTR
PPP-CONTR
  • 接触模式
  • 背面反射涂层
  • Contact Mode
  • Backside Reflex coating
  • C = 0.2 N/m; fo = 13 kHz

uniqprobe™

uniqprobe™
qp-CONT
  • 质量均匀的SPM探针
  • 带有对准芯片的XY-自动对准
  • 接触模式
  • uniform quality SPM probe
  • XY-auto alignment with Alignment Chip
  • Contact Mode
  • C = 0.1 N/m; fo = 30 kHz
qp-SCONT
  • 质量均匀的SPM探针
  • XY-自动对准与对准芯片
  • 接触模式
  • uniform quality SPM probe
  • XY-auto alignment with Alignment Chip
  • Contact Mode
  • C = 0.01 N/m; fo = 11 kHz

PointProbe® Plus

PointProbe® Plus
PPP-CONT
  • 接触模式
  • Contact Mode
  • C = 0.2 N/m; fo = 13 kHz
PPP-CONTR
  • 接触模式
  • 背面反射涂层
  • Contact Mode
  • Backside Reflex coating
  • C = 0.2 N/m; fo = 13 kHz
PPP-CONTSCR
  • 接触模式 
  • 背面反射涂层
  • Contact Mode
  • Backside Reflex coating
  • C = 0.2 N/m; fo = 25 kHz
PPP-CONTSC
  • 接触模式
  • Contact Mode
  • C = 0.2 N/m; fo = 25 kHz
PPP-ZEILR
  • 背面反射涂层
  • Backside Reflex coating
  • C = 1.6 N/m; fo = 27 kHz
PPP-LFMR
  • 背面反射涂层
  • Backside Reflex coating
  • C = 0.2 N/m; fo = 23 kHz

AdvancedTEC™

AdvancedTEC™
ATEC-CONT
  • 高端的悬臂梁末端探针™
  • 真正的顶部可视探针
  • 接触方式
  • Advanced Tip at the End of the
    Cantilever™
  • real tip visibility from top
  • Contact Mode
  • C = 0.2 N/m; fo = 15 kHz

旋转探针

旋转探针
PPP-RT-CONTR
  • 接触模式
  • 背面反射涂层
  • Contact Mode
  • Backside Reflex coating
  • C = 0.2 N/m; fo = 13 kHz

金涂层的PointProbe® Plus

金涂层的PointProbe® Plus
PPP-CONTAuD
  • 接触模式
  • 检测器侧面的金涂层
  • Contact Mode
  • Au coating on detector side
  • C = 0.2 N/m; fo = 13 kHz