ATEC-CONT

Advanced Tip at the End of the Cantilever™ Contact Mode

NANOSENSORS™ AdvancedTEC™ Cont AFM探针是专门为了用于接触模式成像而设计的。它们的特征是从悬臂梁末端伸出的四面体探针。这种独特的功能可实现精确定位,并使AdvancedTEC™成为世界上唯一的可提供一从顶真实探针能见度的AFM扫描探针,即使该探针由于其安装在AFM头上而倾斜时也是如此。此功能使它们成为必须将探针精确放置在目标点上和/或必须可见的所有应用程序(例如纳米操作)的优质选择。

由于其极小的半锥角,AdvancedTEC™系列的探针在具有小图案尺寸和陡峭样品特征的样品上显示出出色的性能。

此探针具有独特的功能:

  • 从顶部真正的探针能见度
  • 典型的探针曲率半径优于10nm
  • 探针高度15-20µm
  • 单片硅
  • 高掺杂硅以消除静电荷
  • 化学惰性
  • 高机械Q-因数可实现高灵敏度
如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 15 7 - 25
力常数 [N / m] 0.2 0.02 - 0.75
长度 [µm] 450 440 - 460
平均宽度 [µm] 50 45 - 55
厚度 [µm] 2 1 - 3
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量
ATEC-CONT-10 10
ATEC-CONT-20 20
ATEC-CONT-50 50
NANOSENSORS™ AdvancedTEC™ AFM Probes