| 属性 | 标称值 | 特定的范围 |
|---|---|---|
| 共振频率 [kHz] | 15 | 7 - 25 |
| 力常数 [N / m] | 0.2 | 0.02 - 0.75 |
| 长度 [µm] | 450 | 440 - 460 |
| 平均宽度 [µm] | 50 | 45 - 55 |
| 厚度 [µm] | 2 | 1 - 3 |
| 订购代码 | 每包AFM探针的数量 |
|---|---|
| ATEC-CONT-10 | 10 |
| ATEC-CONT-20 | 20 |
| ATEC-CONT-50 | 50 |
NANOSENSORS™ AdvancedTEC™ Cont AFM探针是专门为了用于接触模式成像而设计的。它们的特征是从悬臂梁末端伸出的四面体探针。这种独特的功能可实现精确定位，并使AdvancedTEC™成为世界上唯一的可提供一从顶真实探针能见度的AFM扫描探针，即使该探针由于其安装在AFM头上而倾斜时也是如此。此功能使它们成为必须将探针精确放置在目标点上和/或必须可见的所有应用程序（例如纳米操作）的优质选择。
由于其极小的半锥角，AdvancedTEC™系列的探针在具有小图案尺寸和陡峭样品特征的样品上显示出出色的性能。
