PPP-CONT

PointProbe® Plus Contact Mode

PointProbe®Plus(PPP)结合了久经考验的PointProbe®系列的众所周知的功能,例如高度的应用多功能性以及与大多数商业SPM的兼容性,并具有进一步减小和可重复的探针半径以及更明确的探针形状。探针半径通常小于7nm,并且探针形状的变化最小,可提供更有重复性的图像和更高的分辨率。

NANOSENSORS™ PPP-CONT AFM探针是专为用于接触模式(排斥模式)AFM成像而设计的。该AFM探针还可用于力距光谱模式或脉冲力模式(PFM)。由于力常数低,CONT型针对高灵敏度进行了优化。

此探针具有独特的功能:

  • 保证的探针曲率半径< 10nm
  • 探针高度为10-15µm
  • 高掺杂硅以消除静电荷
  • 化学惰性
  • 高机械 Q-因数可实现高灵敏度
如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 13 6 - 21
力常数 [N / m] 0.2 0.02 - 0.77
长度 [µm] 450 440 - 460
平均宽度 [µm] 50 42.5 - 57.5
厚度 [µm] 2 1 - 3
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
PPP-CONT-10 10 of all probes
PPP-CONT-20 20 of all probes
PPP-CONT-50 50
PPP-CONT-W 380 of up to 32 probes
NANOSENSORS™ PointProbe® Plus AFM Probes