PPP-CONTSC

PointProbe® Plus Contact Mode Short Cantilever

PointProbe®Plus(PPP)结合了久经考验的PointProbe®系列的众所周知的功能,例如高度的应用多功能性以及与大多数商业SPM的兼容性,并具有进一步减小和有重复性的探针半径以及更明确的探针形状。探针半径通常小于7nm,并且探针形状的变化最小,可提供更可重复的图像和更高的分辨率。 NANOSENSORS™PPP-CONTSC是接触模式应用的另一种悬臂类型。相对于首选的接触模式类型,减少了悬臂梁的长度,从而可以更轻松地与某些AFM仪器的非接触模式探针互换。此外,这种类型的探针可用于横向或摩擦力模式。

此探针具有独特的功能:

  • 保证探针的曲率半径<10nm
  • 探针高度为10-15µm
  • 高掺杂硅以消除静电荷
  • 高机械Q-因数可实现高灵敏度
  • 硅支架芯片背面的对准槽
  • 与对准芯片一起使用时,悬臂梁位置的精确对准(+/-2µm以内)
  • PointProbe® Plus XY-对准系列兼容
如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 25 1 - 57
力常数 [N / m] 0.2 0.01 - 1.87
长度 [µm] 225 215 - 235
平均宽度 [µm] 48 40 - 55
厚度 [µm] 1 0.1 - 2
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
PPP-CONTSC-10 10 of all probes
PPP-CONTSC-20 20 of all probes
PPP-CONTSC-50 50
PPP-CONTSC-W 380 of up to 32 probes
NANOSENSORS™ PointProbe® Plus AFM Probes