PPP-RT-CONTR

 

PointProbe® Plus Rotated Tip Contact Mode - Reflex Coating 

新型PointProbe® Plus(PPP)结合了久经考验的PointProbe®系列的众所周知的功能,例如高度的应用多功能性以及与大多数商业SPM的兼容性,并具有更小和更有重复性的探针半径以及更明确的探针形状。探针半径通常小于7nm,并且探针形状的变化最小,可提供更可重复的图像和更高的分辨率。

NANOSENSORS™ PPP-RT-CONTR AFM探针是专为用于接触模式(排斥模式)AFM成像而设计的。该AFM探针还可用于力距光谱模式或脉冲力模式(PFM)。由于力常数低,CONTR型针对高灵敏度进行了优化。

对于某些应用,旋转的PointProbe®Plus探针可提供更对称的成像。旋转的探针形状与典型的探针形状相同,但是相对于悬臂梁方向旋转了180°。

此探针具有独特的功能:

  • 保证探针的曲率半径<10nm
  • 探针高度为10-15µm
  • 高掺杂硅以消除静电荷
  • 高机械Q-因数可实现高灵敏度

反射涂层是在悬臂梁的检测器侧大约30nm厚的铝涂层,可将激光束的反射率提高约2.5倍。此外,它防止了光在悬臂梁内的干涉。几乎没有应力的涂层使悬臂梁弯曲不到悬臂梁长度的2%。

如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 13 6 - 21
力常数 [N / m] 0.2 0.02 - 0.77
长度 [µm] 450 440 - 460
平均宽度 [µm] 50 42.5 - 57.5
厚度 [µm] 2 1 - 3
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
PPP-RT-CONTR-10 10 of all probes
PPP-RT-CONTR-20 20 of all probes
PPP-RT-CONTR-50 50
NANOSENSORS™ PointProbe® Plus AFM探针