PPP-ZEILR

PointProbe® Plus ZEISS Veritekt Microscopes - Contact Mode Low Force Constant - Reflex Coating

新型PointProbe® Plus(PPP)结合了久经考验的PointProbe®系列的众所周知的功能,例如高度的应用多功能性以及与大多数商业SPM的兼容性,并进一步减小了探针的半径并使其具有更高的可重复性以及更加明确的探针形状。探针半径通常小于7nm,并且探针形状的变化最小,可提供更可重复的图像和更高的分辨率。

对于使用接触模式的Zeiss Veritekt或Seiko Instruments显微镜的所有者,我们建议使用NANOSENSORS™ PPP-ZEILR(Zeiss Veritekt /低力常数)。与接触模式AFM探针(CONT)相比,力常数略有增加。

此探针具有独特的功能:

  • 保证探针的曲率半径<10nm
  • 探针高度为10-15µm
  • 高掺杂硅以消除静电荷
  • 悬臂梁探测器侧的铝涂层
  • 高机械Q-因数可实现高灵敏度

反射涂层是在悬臂的检测器侧大约30nm厚的铝涂层,可将激光束的反射率提高约2.5倍。此外,它防止了光在悬臂梁内干涉。几乎无应力的涂层使悬臂梁弯曲不到悬臂梁长度的2%。

如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 27 19 - 35
力常数 [N / m] 1.6 0.6 - 3.9
长度 [µm] 450 440 - 460
平均宽度 [µm] 55 47.5 - 62.5
厚度 [µm] 4 3 - 5
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
PPP-ZEILR-10 10 of all probes
PPP-ZEILR-20 20 of all probes
PPP-ZEILR-50 50
PPP-ZEILR-W 380 of up to 32 probes
NANOSENSORS™ PointProbe® Plus AFM Probes