PointProbe® Plus Lateral Force Microscopy - Reflex Coating
PointProbe®Plus(PPP)结合了久经考验的PointProbe®系列的众所周知的功能,例如高度的应用多功能性以及与大多数商业SPM的兼容性,并具有进一步减小和有重复性的探针半径以及更明确的探针形状。探针半径通常小于7nm,并且探针形状的变化最小,可提供更可重复的图像和更高的分辨率。
对于横向或摩擦力显微镜,NANOSENSORS™提供了一种特殊类型的AFM探针(LFM:横向力显微镜)。这种传感器类型经过优化,通过非常柔软、薄的悬臂梁对横向力或摩擦力具有高灵敏度。
此探针具有独特的功能:
- 保证探针的曲率半径
- 探针高度为10-15µm
- 高掺杂硅以消除静电荷
- 悬臂梁检测器侧面的铝涂层
- 高机械Q-因数可实现高灵敏度
- 硅支架芯片背面的对准槽
- 与对准芯片一起使用时,悬臂梁位置的精确对准(+/-2µm以内)
- 与PointProbe® Plus XY-对准系列兼容
反射涂层是在悬臂梁的检测器侧的大约30nm厚的铝涂层,可将激光束的反射率提高约2.5倍。此外,它防止了光在悬臂梁内的干涉。几乎没有应力的涂层使悬臂梁弯曲不到悬臂梁长度的2%。