柔性轻敲 / NC / AC 模式AFM探针

柔性轻敲 / NC / AC 模式AFM探针

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PPP-NCSTR
PPP-NCSTR
  • 非接触柔性轻敲模式
  • 背面反射涂层
  • Non-Contact Soft Tapping
  • Backside Reflex coating
  • C = 7.4 N/m; fo = 160 kHz

PointProbe® Plus

PointProbe® Plus
PPP-NCST
  • 非接触柔性轻敲模式
  • Non-Contact Soft Tapping
  • C = 7.4 N/m; fo = 160 kHz
PPP-NCSTR
  • 非接触柔性轻敲模式
  • 背面反射涂层
  • Non-Contact Soft Tapping
  • Backside Reflex coating
  • C = 7.4 N/m; fo = 160 kHz
PPP-SEIHR
  • 用于Seiko Instruments显微镜
  • 背面反射涂层
  • for Seiko Instruments microscope
  • Backside Reflex coating
  • C = 15 N/m; fo = 130 kHz

uniqprobe™

uniqprobe™
qp-fast
  • 质量均匀的SPM探针
  • 带有对准芯片的XY自动对准
  • 背面金涂层
  • uniform quality SPM probe
  • XY-auto alignment with Alignment Chip
  • Backside Au coating
  • 3 cantilevers
  • C1 = 80 N/m; fo1 = 800 kHz
  • C2 = 30 N/m; fo2 = 420 kHz
  • C3 = 15 N/m; fo3 = 250 kHz

金涂层的PointProbe® Plus

金涂层的PointProbe® Plus
PPP-NCSTAuD
  • 非接触柔性轻敲模式
  • 检测器侧面的金涂层
  • Non-Contact Soft Tapping
  • Au coating on detector side
  • C = 7.4 N/m; fo = 160 kHz