PPP-SEIHR

PointProbe® Plus SEIKO microscopes - Non-Contact / Tapping Mode High Force Constant - Reflex Coating

新型PointProbe® Plus(PPP)结合了久经考验的PointProbe®系列的众所周知的功能,例如高度的应用多功能性以及与大多数商业SPM的兼容性,并具有更小和更有重复性的探针半径以及更明确的探针形状。探针半径通常小于7nm,并且探针形状的变化最小,可提供更可重复的图像和更高的分辨率。

对于使用非接触模式的Seiko Instruments显微镜的拥有者,我们建议使用NANOSENSORS™ PPP-SEIHR AFM探针(Seiko Instruments /高推力常数)。与ZEIHR型相比,力常数进一步减小。

此探针具有独特的功能:

  • 保证探针的曲率半径
  • 探针高度为 10 - 15µm
  • 高掺杂硅以消除静电荷
  • 悬臂梁检测器侧面的铝涂层
  • 高机械Q-因数可实现高灵敏度
  • 硅支架芯片背面的对准槽
  • 对准芯片一起使用时,悬臂梁两边位置的精确对准(+/-2µm以内)
  • PointProbe® Plus XY-对准系列兼容

反射涂层是在悬臂梁的检测器侧的大约30 nm厚的铝涂层,可将激光束的反射率提高约2.5倍。此外,它防止了光在悬臂梁内的干涉。几乎没有应力的涂层使悬臂梁弯曲不到悬臂梁长度的2%。

如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 130 96 - 175
力常数 [N / m] 15 5 - 37
长度 [µm] 225 215 - 235
平均宽度 [µm] 33 25 - 40
厚度 [µm] 5 4 - 6
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
PPP-SEIHR-10 10 of all probes
PPP-SEIHR-20 20 of all probes
PPP-SEIHR-50 50
PPP-SEIHR-W 380 of up to 32 probes
NANOSENSORS™ PointProbe® Plus AFM Probes