PointProbe® Plus SEIKO microscopes - Non-Contact / Tapping Mode High Force Constant - Reflex Coating
新型PointProbe® Plus（PPP）结合了久经考验的PointProbe®系列的众所周知的功能，例如高度的应用多功能性以及与大多数商业SPM的兼容性，并具有更小和更有重复性的探针半径以及更明确的探针形状。探针半径通常小于7nm，并且探针形状的变化最小，可提供更可重复的图像和更高的分辨率。
对于使用非接触模式的Seiko Instruments显微镜的拥有者，我们建议使用NANOSENSORS™ PPP-SEIHR AFM探针（Seiko Instruments /高推力常数）。与ZEIHR型相比，力常数进一步减小。
此探针具有独特的功能：
- 保证探针的曲率半径
- 探针高度为 10 - 15µm
- 高掺杂硅以消除静电荷
- 悬臂梁检测器侧面的铝涂层
- 高机械Q-因数可实现高灵敏度
- 硅支架芯片背面的对准槽
- 与对准芯片一起使用时，悬臂梁两边位置的精确对准（+/-2µm以内）
- 与 PointProbe® Plus XY-对准系列兼容
反射涂层是在悬臂梁的检测器侧的大约30 nm厚的铝涂层，可将激光束的反射率提高约2.5倍。此外，它防止了光在悬臂梁内的干涉。几乎没有应力的涂层使悬臂梁弯曲不到悬臂梁长度的2％。
