PPP-NCSTAuD

PointProbe® Plus Non-Contact / Soft Tapping Mode - Au Coating (Detector side)

PointProbe®Plus(PPP)结合了久经考验的PointProbe®系列的众所周知的功能,例如高度的应用多功能性以及与大多数商用SPM的兼容性,并具有更小和更有重复性的探针半径以及更明确的探针形状。探针半径通常小于7nm,并且探针形状的变化最小,可提供更可重复的图像和更高的分辨率。

NANOSENSORS™ PPP-NCSTAuD AFM探针是专为用于非接触或柔性轻敲模式成像而设计的。软悬臂梁和相当高的共振频率相结合,可实现稳定,快速的测量,同时减少了探针与样品的相互作用。此功能可同时显着减少探针磨损和样品磨损。

此探针具有独特的功能:

  • 保探针的曲率半径<10nm
  • 探针高度为10-15µm
  • 高掺杂硅以消除静电荷
  • 悬臂梁检测器侧面的金涂层
  • 化学惰性

金属层(金)涂覆在悬臂梁的检测器侧,该金属层将激光束的反射率提高了约2.5倍。此外,它防止了光在悬臂梁内的干涉。几乎没有应力的涂层使悬臂梁弯曲得小于悬臂梁长度的2%。

如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 160 75 - 265
力常数 [N / m] 7.4 1.2 - 29
长度 [µm] 150 140 - 160
平均宽度 [µm] 27 19.5 - 34.5
厚度 [µm] 2.8 1.8 - 3.8
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
PPP-NCSTAuD-10 10 of all probes
NANOSENSORS™ PointProbe® Plus AFM探针