SSS-SEIHR

SuperSharpSilicon™ - SEIKO Microscopes - Non-Contact / Tapping Mode - High Force Constant - Reflex Coating

对于使用非接触模式的Seiko Instruments公司显微镜的拥有者,我们建议使用NANOSENSORS™ SEIHR型(Seiko Instruments /高力常数)。与SEIH型相比,力常数进一步减小。

为了提高纳米结构的分辨率和微粗糙度,我们提供具有无与伦比的清晰度的SuperSharpSilicon™探针。

此探针具有独特的功能:

  • 保证探针曲率半径<5nm
  • 探针曲率半径通常为2nm
  • 距针尖200 nm处的纵横比通常为4:1
  • 从顶部<10°在200nm处的半锥角
  • 高掺杂硅以消除静电荷
  • 高机械Q-因数可实现高灵敏度
  • 硅支架芯片背面的对准槽
  • 对准芯片一起使用时,悬臂梁两边位置的精确对准(+/-2µm以内)
  • PointProbe® Plus XY-对准系列兼容

反射涂层是在悬臂梁的检测器侧的大约30nm厚的铝涂层,可将激光束的反射率提高约2.5倍。此外,它防止了光在悬臂梁内的干涉。几乎没有应力的涂层使悬臂梁弯曲不到悬臂梁长度的2%。

如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 130 96 - 175
力常数 [N / m] 15 5 - 37
长度 [µm] 225 215 - 235
平均宽度 [µm] 33 30 - 45
厚度 [µm] 5 4 - 6
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
SSS-SEIHR-10 10 of all probes
SSS-SEIHR-20 20 of all probes
SSS-SEIHR-50 50
NANOSENSORS™ SuperSharpSilicon™