SuperSharpSilicon™ - SEIKO Microscopes - Non-Contact / Tapping Mode - High Force Constant - Reflex Coating
对于使用非接触模式的Seiko Instruments公司显微镜的拥有者，我们建议使用NANOSENSORS™ SEIHR型（Seiko Instruments /高力常数）。与SEIH型相比，力常数进一步减小。
为了提高纳米结构的分辨率和微粗糙度，我们提供具有无与伦比的清晰度的SuperSharpSilicon™探针。
此探针具有独特的功能：
- 保证探针曲率半径<5nm
- 探针曲率半径通常为2nm
- 距针尖200 nm处的纵横比通常为4：1
- 从顶部<10°在200nm处的半锥角
- 高掺杂硅以消除静电荷
- 高机械Q-因数可实现高灵敏度
- 硅支架芯片背面的对准槽
- 与对准芯片一起使用时，悬臂梁两边位置的精确对准（+/-2µm以内）
- 与 PointProbe® Plus XY-对准系列兼容
反射涂层是在悬臂梁的检测器侧的大约30nm厚的铝涂层，可将激光束的反射率提高约2.5倍。此外，它防止了光在悬臂梁内的干涉。几乎没有应力的涂层使悬臂梁弯曲不到悬臂梁长度的2％。
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