SSS-SEIH

SuperSharpSilicon™ - SEIKO microscopes - Non-Contact / Tapping Mode - High Force Constant

对于使用非接触模式的 Seiko Instruments公司的显微镜的拥有者,我们建议使用NANOSENSORS™SEIH型(Seiko Instruments /高力常数)。与ZEIH型相比,力常数进一步减小。

为了提高纳米结构的分辨率和微粗糙度,我们提供了具有无与伦比的清晰度的SuperSharpSilicon™探针。

此探针具有独特的功能:

  • 保证探针的曲率半径<5nm
  • 探针曲率半径通常为2nm
  • 距针尖200nm处的深宽比通常为3:1
  • 距针尖200nm处的半锥角<10°
  • 整体材料
  • 高掺杂硅以消除静电荷
  • 化学惰性
  • 高机械Q-因数可实现高灵敏度
  • 硅支架芯片背面的对准槽
  • 对准芯片一起使用时,悬臂梁两边位置的精确对准(+/-2µm以内)
  • PointProbe® Plus XY-对准系列兼容
如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 130 96 - 175
力常数 [N / m] 15 5 - 37
长度 [µm] 225 215 - 235
平均宽度 [µm] 33 30 - 45
厚度 [µm] 5 4 - 6
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
SSS-SEIH-10 10 of all probes
SSS-SEIH-20 20 of all probes
SSS-SEIH-50 50
NANOSENSORS SuperSharpSilicon