SSS-NCH

SuperSharpSilicon™ - Non-Contact / Tapping Mode - High Resonance Frequency

NANOSENSORS™ SSS-NCH AFM探针是专为用于非接触模式或轻敲模式AFM而设计的。

为了提高纳米结构的分辨率和微粗糙度,我们提供具有无与伦比的清晰度的SuperSharpSilicon™探针。

此探针具有独特的功能:

  • 保证探针的曲率半径<5nm
  • 探针曲率半径通常为2nm
  • 距针尖200nm处的深宽比通常为4:1
  • 距针尖200nm处的半锥角<10°
  • 整体材料
  • 高掺杂硅以消除静电荷
  • 化学惰性
  • 高机械Q-因数可实现高灵敏度
如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 330 204 - 497
力常数 [N / m] 42 10 - 130
长度 [µm] 125 115 - 135
平均宽度 [µm] 30 30 - 45
厚度 [µm] 4 3 - 5
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
SSS-NCH-10 10 of all probes
SSS-NCH-20 20 of all probes
SSS-NCH-50 50
NANOSENSORS™ SuperSharpSilicon™