SSS-MFMR

SuperSharpSilicon™ Magnetic Force Microscopy - Reflex Coating

NANOSENSORS™ SSS-MFMR AFM探针针对高分辨率磁力成像进行了优化。 SuperSharpSilicon™探针基础与非常薄的硬磁涂层相结合,可以使探针的半径极小,并且在探针的最后几百纳米处具有很高的长宽比,这是对低至20nm的高横向分辨率的基本要求环境条件。

由于探针的低磁矩,与标准MFM探针相比,对磁力的敏感度大大降低,但软磁样品的干扰也降低了。

探针的硬磁涂层的特点是应用的矫顽力约为 125Oe和剩磁化约为 80emu/cm3(这些值是在平坦的表面上确定的)。

此SPM探针具有独特的功能:

  • 探针侧的硬磁涂层(矫顽力约为125Oe,剩磁化约为80emu/cm3)
  • 有效磁矩0.25x标准探针
  • 金属电导率
  • 保证探针的曲率半径<15nm
  • 磁分辨率优于25nm
  • 悬臂梁的检测器一侧的铝涂层将激光束的反射率提高了约2.5倍
  • 对准芯片一起使用时,悬臂梁两边位置的精确对准(+/-2µm以内
  • PointProbe® Plus XY-对准系列兼容

由于两个涂层几乎都没有应力,因此由于应力而导致的悬臂梁弯曲小于悬臂梁长度的3.5%。为了增强信号强度,建议在测量之前通过强力永磁体对探针进行磁化。

如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 75 45 - 115
力常数 [N / m] 2.8 0.5 - 9.5
长度 [µm] 225 215 - 235
平均宽度 [µm] 28 20 - 35
厚度 [µm] 3 2 - 4
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
SSS-MFMR-10 10 of all probes
SSS-MFMR-20 20 of all probes
SSS-MFMR-50 50
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