| 属性 | 标称值 | 特定的范围 |
|---|---|---|
| 共振频率 [kHz] | 75 | 45 - 115 |
| 力常数 [N / m] | 2.8 | 0.5 - 9.5 |
| 长度 [µm] | 225 | 215 - 235 |
| 平均宽度 [µm] | 28 | 20 - 35 |
| 厚度 [µm] | 3 | 2 - 4 |
| 品质因数 | 30000 | 30000 - 50000 |
| 订购代码 | 每包AFM探针的数量 | 数据表 |
|---|---|---|
| SSS-QMFMR-10 | 10 | of all probes |
The NANOSENSORS™ SSS-QMFMR AFM 探针将SuperSharpSilicon™磁性力调制显微镜探针的高分辨率性能与Q30K-Plus系列的超高真空条件下的高机械品质因数相结合。涂层探针的半径极小，探针的最后几百纳米处的高深宽比以及超过35,000的Q-因数，有助于在磁力图像中实现出色的横向分辨率以及在超高压条件下的高操作稳定性。
由于探针的低磁矩，与标准MFM探针相比，对磁力的灵敏度降低了，但软磁样品的干扰也降低了。
探针上的硬磁涂层的特征在于应用的矫顽力约为125Oe和剩磁化约为80emu/cm3（这些值是在平坦的表面上确定的）。
由于两个涂层几乎都没有应力，因此由于应力而导致的悬臂梁弯曲小于悬臂梁长度的3.5％。为了增强信号强度，建议在测量之前通过强力永磁体对探针进行磁化。
