SuperSharpSilicon™ - High Quality-Factor - Magnetic Force Microscopy - Reflex Coating
The NANOSENSORS™ SSS-QMFMR AFM 探针将SuperSharpSilicon™磁性力调制显微镜探针的高分辨率性能与Q30K-Plus系列的超高真空条件下的高机械品质因数相结合。涂层探针的半径极小，探针的最后几百纳米处的高深宽比以及超过35,000的Q-因数，有助于在磁力图像中实现出色的横向分辨率以及在超高压条件下的高操作稳定性。
由于探针的低磁矩，与标准MFM探针相比，对磁力的灵敏度降低了，但软磁样品的干扰也降低了。
探针上的硬磁涂层的特征在于应用的矫顽力约为125Oe和剩磁化约为80emu/cm3（这些值是在平坦的表面上确定的）。
此SPM探针具有独特的功能：
- 探针侧的硬磁性涂层（矫顽力约为125Oe，剩磁化约为80emu/cm3）
- 有效磁矩0.25x标准探针
- 金属电导率
- 保证探针的曲率半径
- 磁分辨率优于25nm
- 悬臂梁的检测器一侧的铝涂层将激光束的反射率提高了约2.5倍
- 在超高压条件下具有出色的机械Q-因数，可实现高灵敏度
- 硅支架芯片背面的对准槽
- 与对准芯片一起使用时，悬臂梁两边位置的精确对准（+/-2µm以内）
- 与 PointProbe® Plus XY-对准系列兼容
由于两个涂层几乎都没有应力，因此由于应力而导致的悬臂梁弯曲小于悬臂梁长度的3.5％。为了增强信号强度，建议在测量之前通过强力永磁体对探针进行磁化。
