SSS-FM

SuperSharpSilicon™- Force Modulation Mode

NANOSENSORS™ SSS-FM AFM探针是专为用于力调制模式而设计的。 为了提高纳米结构的分辨率和微粗糙度,我们提供具有无与伦比的清晰度的SuperSharpSilicon™探针。

FM型用于力调制显微镜。此AFM探针的力常数跨越了接触和非接触模式之间的间隙,并专门针对力调制模式进行了量身定制。 SSS-FM探针还可以用作带有磁性涂层(SSS-MFMR)的高分辨率探针的基础。

此外,使用FM探针可以进行非接触或分接模式操作,但操作稳定性降低。

此探针具有独特的功能:

  • 保证探针的曲率半径<5nm
  • 探针曲率半径通常为2nm
  • 距针尖200nm处的深宽比通常为4:1
  • 从顶部在200nm处的半锥角<10°
  • 整体材料
  • 高度掺杂以消除静电荷
  • 化学惰性
  • 高机械Q-因数可实现高灵敏度
如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 75 45 - 115
力常数 [N / m] 2.8 0.5 - 9.5
长度 [µm] 225 215 - 235
平均宽度 [µm] 30 20 - 35
厚度 [µm] 3 2 - 4
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
SSS-FM-10 10 of all probes
SSS-FM-20 20 of all probes
SSS-FM-50 50