PPP-SEIH

PointProbe® Plus SEIKO microscopes - Non-Contact /Tapping Mode High Force Constant

PointProbe® Plus(PPP)结合了久经考验的PointProbe®系列的众所周知的功能,例如高度的应用多功能性以及与大多数商业SPM的兼容性,并进一步减小了探针的半径并使其具有更高的可重复性以及更加明确的探针形状。探针半径通常小于7nm,并且探针形状的变化最小,可提供更可重复的图像和更高的分辨率。

对于使用非接触模式的Seiko Instruments显微镜的拥有者,我们建议使用NANOSENSORS™ PPP-SEIH AFM探针(Seiko Instruments /高推力常数)。

此探针具有独特的功能:

  • 保证探针的曲率半径<10nm
  • 探针高度为10-15µm
  • 高掺杂硅以消除静电荷
  • 化学惰性
  • 高机械Q-因数可实现高灵敏度
如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 130 96 - 175
力常数 [N / m] 15 5 - 37
长度 [µm] 225 215 - 235
平均宽度 [µm] 33 25 - 40
厚度 [µm] 5 4 - 6
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
PPP-SEIH-10 10 of all probes
PPP-SEIH-20 20 of all probes
PPP-SEIH-50 50
PPP-SEIH-W 380 of up to 32 probes
NANOSENSORS™ PointProbe® Plus AFM探针