PointProbe® Plus Rotated Tip Force Modulation Mode - Reflex Coating
PointProbe®系列的众所周知的功能，例如高度的应用多功能性以及与大多数商业SPM的兼容性，并具有更小和更有重复性的探针半径以及更明确的探针形状。探针半径通常小于7nm，并且探针形状的变化最小，可提供更可重复的图像和更高的分辨率。
FM型用于力调制显微镜。此AFM探针的力常数跨越了接触和非接触模式之间的间隙，并专门针对力调制模式进行了量身定制。 FM探针还用作磁性涂层（MFM）的基础。
此外，使用FM探针可以进行非接触或轻敲模式操作，但操作稳定性降低。 对于某些应用，旋转的PointProbe®Plus探针可提供更对称的成像。旋转的探针形状与典型的探针形状相同，但是相对于悬臂梁方向旋转了180°
此探针具有独特的功能：
- 保证探针的曲率半径<10nm
- 探针高度为10-15µm
- 高度掺杂以消除静电荷
- 高机械Q-因数可实现高灵敏度
- 硅支架芯片背面的对准槽
- 与对准芯片一起使用时，悬臂梁两边位置的精确对准（+/-2µm以内）
- 与PointProbe® Plus XY-对准系列兼容
反射涂层是在悬臂的检测器侧大约30nm厚的铝涂层，可将激光束的反射率提高约2.5倍。此外，它防止了光在悬臂梁内的干涉。几乎没有应力的涂层使悬臂梁弯曲不到悬臂梁长度的2％。
