PPP-NCLAuD

Point Probe® Plus Non-Contact /Tapping Mode - Long Cantilever - Au coating (Detector side)

PointProbe®Plus(PPP)结合了久经考验的PointProbe®系列的众所周知的功能,例如高度的应用多功能性以及与大多数商用SPM的兼容性,并进一步减小了探针的半径并使其具有更高的可重复,并且使探针的形状更加明确。探针半径通常小于7nm,并且探针形状的变化最小,可提供更可重复的图像和更高的分辨率。

NANOSENSORS™ PPP-NCLAuD探针是专为用于非接触模式或轻敲模式AFM(也称为:吸引或动态模式)而设计的。 NCL类型是NANOSENSORS™高频非接触类型(NCH)的替代产品。如果显微镜的反馈回路不接受高频(400kHz)或检测系统需要的最小悬臂梁长度> 125µm,则建议使用PPP-NCLAuD。与高频非接触式NCH相比,最大扫描速度略有降低。这种探针兼具高操作稳定性,出色的灵敏度和快速的扫描能力。

此探针具有独特的功能:

  • 保证探针的曲率半径
  • 探针高度为10-15µm
  • 高掺杂硅以消除静电荷
  • 悬臂检测器侧面的金涂层
  • 化学惰性

金属层(金)涂覆在悬臂梁的检测器侧,该金属层将激光束的反射率提高了约2.5倍。此外,它防止了光在悬臂内的干涉。几乎没有应力的涂层使悬臂梁弯曲得小于悬臂梁长度的2%。

如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 190 146 - 236
力常数 [N / m] 48 21 - 98
长度 [µm] 225 215 - 235
平均宽度 [µm] 38 30 - 45
厚度 [µm] 7 6 - 8
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
PPP-NCLAuD-10 10 of all probes
NANOSENSORS™ PointProbe® Plus AFM Probes