PPP-MFMR

Point Probe® Plus Magnetic Force Microscopy - Reflex Coating

NANOSENSORS™ PPP-MFMR AFM探针是我们用于磁性力调制显微镜的标准探针,具有合理的灵敏度,分辨率和矫顽力。它已被证明可以稳定记录各种记录介质和其他样本。这种探针类型的力常数是专门为磁性力调制显微镜量身定制的,可产生高力灵敏度,同时可实现轻敲模式和提升模式操作。

探针上的硬磁涂层经过优化,可实现高磁对比度和远高于50nm的高横向分辨率。该涂层的特征在于应用的矫顽力。 300Oe和app的剩磁。 300 emu / cm3(这些值是在平坦的表面上确定的)。

SPM探针具有独特的功能:

  • 探针侧的硬磁性涂层(矫顽力约为300Oe,剩磁强度约为300 emu / cm3)
  • 有效磁矩约为10-13emu
  • 金属电导率
  • 保证探针曲率半径
  • 磁分辨率优于50nm
  • 探针高度为10-15µm
  • 悬臂的检测器一侧的铝涂层将激光束的反射率提高了约2.5倍
  • 硅支架芯片背面的对准槽
  • 与对准芯片一起使用时,悬臂位置的精确对准(+/-2µm以内)
  • PointProbe® Plus XY-对准系列兼容
由于两个涂层几乎都没有应力,因此由于应力而导致的悬臂梁弯曲小于悬臂梁长度的3.5%。为了增强信号强度,建议在测量之前通过强力永磁体对探针进行磁化。
如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 75 45 - 115
力常数 [N / m] 2.8 0.5 - 9.5
长度 [µm] 225 215 - 235
平均宽度 [µm] 28 20 - 35
厚度 [µm] 3 2 - 4
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
PPP-MFMR-10 10 of all probes
PPP-MFMR-20 20 of all probes
PPP-MFMR-50 50
PPP-MFMR-W 380 of up to 32 probes
NANOSENSORS™ Magnetic Force Microscopy MFM Silicon Probes