PPP-LM-MFMR

Point Probe® Plus Magnetic Force Microscopy - Low Momentum - Reflex Coating

与标准PPP-MFMR探针相比,NANOSENSORS™ PPP-LM-MFMR AFM探针是专为磁性力调制显微镜而设计的,可减少探针对磁性样品的干扰并提高横向分辨率。这种探针类型的力常数是专门为磁力显微镜量身定制的,可产生高力灵敏度,同时可实现轻敲模式和提升模式操作。

探针上面的硬磁涂层的特征在于应用的矫顽力约为250Oe和剩磁化约为150 emu / cm3(这些值在平坦的表面上确定)。

SPM探针具有独特的功能:

  • 探针侧面的硬磁涂层(矫顽力约为250Oe,剩磁化约为150 emu / cm3)
  • 有效磁矩为标准探针的0.5倍
  • 金属导电
  • 保证探针的曲率半径
  • 磁性分辨率优于35nm
  • 探针高度为10-15µm
  • 悬臂梁连的检测器一侧的铝涂层将激光束的反射率提高了约2.5倍
  • 硅支架芯片背面的对准槽
  • 与对准芯片一起使用时,悬臂梁位置的精确对准(+/-2µm以内)
  • PointProbe® Plus XY-对准此列兼容

由于两个涂层几乎都没有应力,因此由于应力而导致的悬臂梁弯曲小于悬臂梁长度的3.5%。为了增强信号强度,建议在测量之前通过强力永磁体对探针进行磁化。

如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 75 45 - 115
力常数 [N / m] 2.8 0.5 - 9.5
长度 [µm] 225 215 - 235
平均宽度 [µm] 28 20 - 35
厚度 [µm] 3 2 - 4
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
PPP-LM-MFMR-10 10 of all probes
PPP-LM-MFMR-20 20 of all probes
PPP-LM-MFMR-50 50
NANOSENSORS™ Magnetic Force Microscopy MFM Silicon Probes