PPP-LC-MFMR

Point Probe® Plus Magnetic Force Microscopy - Low Coercivity - Reflex Coating

NANOSENSORS™ PPP-LC-MFMR AFM探针涂有软磁薄膜,可测量软磁样品中的磁畴。由于探针涂层的矫顽力低,探针的磁化强度很容易被硬磁性样品重新定向。

探针上的软磁性涂层的矫顽力约为7.5Oe和剩磁化约为225 emu / cm3(这些值是在平坦的表面上确定的)。

SPM探针具有独特的功能:

  • 探针侧面的软磁涂层(矫顽力约为7.5Oe,剩磁化约为225 emu / cm3)
  • 标准探针的有效磁矩为0.75倍
  • 磁分辨率优于35nm
  • 保证探针的曲率半径<30nm
  • 探针高度为10-15µm
  • 悬臂的检测器一侧的铝涂层将激光束的反射率提高了约2.5倍
  • 硅支架芯片背面的对准槽
  • 与对准芯片一起使用时,悬臂梁位置的精确对准(+/-2µm以内)
  • PointProbe® Plus XY-对准系列兼容

由于两个涂层几乎都没有应力,因此由于应力而导致的悬臂梁弯曲小于悬臂梁长度的3.5%。为了增强信号强度,建议在测量之前通过强力永磁体对探针进行磁化。

 

如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 75 45 - 115
力常数 [N / m] 2.8 0.5 - 9.5
长度 [µm] 225 215 - 235
平均宽度 [µm] 28 20 - 35
厚度 [µm] 3 2 - 4
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
PPP-LC-MFMR-10 10 of all probes
PPP-LC-MFMR-20 20 of all probes
PPP-LC-MFMR-50 50
NANOSENSORS™ Magnetic Force Microscopy MFM Silicon Probes