| 属性 | 标称值 | 特定的范围 |
|---|---|---|
| 共振频率 [kHz] | 75 | 45 - 115 |
| 力常数 [N / m] | 2.8 | 0.5 - 9.5 |
| 长度 [µm] | 225 | 215 - 235 |
| 平均宽度 [µm] | 28 | 20 - 35 |
| 厚度 [µm] | 3 | 2 - 4 |
| 品质因数 | 30000 | 30000 - 50000 |
| 订购代码 | 每包AFM探针的数量 | 数据表 |
|---|---|---|
| PPP-QLC-MFMR-10 | 10 | of all probes |
NANOSENSORS™ PPP-QLC-MFMR AFM探针在Q30K-Plus系列的超高真空条件下，通过软磁性涂层将磁性样品的低干扰与高机械品质因数结合在一起。低矫顽力和超过35,000的Q值使软磁样品的磁力显微镜能够在超高压条件下实现高操作稳定性。由于探针涂层的矫顽力低，探针的磁化强度很容易被硬磁性样品重新定向。
探针上的软磁涂层的矫顽力约为7.5Oe和剩磁化约为225emu/cm3（这些值是在平坦的表面上确定的）。
由于两个涂层几乎都没有应力，因此由于应力而导致的悬臂梁弯曲小于悬臂梁长度的3.5％。为了增强信号强度，建议在测量之前通过强力永磁体对探针进行磁化。
