PPP-QLC-MFMR

Point Probe® Plus - Magnetic Force Microscopy - High Quality-Factor - Low Coercivity - Reflex Coating

NANOSENSORS™ PPP-QLC-MFMR AFM探针在Q30K-Plus系列的超高真空条件下,通过软磁性涂层将磁性样品的低干扰与高机械品质因数结合在一起。低矫顽力和超过35,000的Q值使软磁样品的磁力显微镜能够在超高压条件下实现高操作稳定性。由于探针涂层的矫顽力低,探针的磁化强度很容易被硬磁性样品重新定向。

探针上的软磁涂层的矫顽力约为7.5Oe和剩磁化约为225emu/cm3(这些值是在平坦的表面上确定的)。

SPM探针具有独特的功能:

  • 探针侧面的软磁涂层(矫顽力约为7.5Oe,剩磁化约为225emu/cm3)
  • 标准探针的有效磁矩为0.75倍
  • 保证探针的曲率半径<30nm
  • 磁分辨率优于35nm
  • 探针高度为10-15µm
  • 悬臂梁的检测器一侧的铝涂层将激光束的反射率提高了约2.5倍
  • 在超高压条件下具有出色的机械Q-因数,可实现高灵敏度
  • 对准芯片一起使用时,悬臂梁两边位置的精确对准(+/-2µm以内)
  • PointProbe® Plus XY-对准系列兼容

由于两个涂层几乎都没有应力,因此由于应力而导致的悬臂梁弯曲小于悬臂梁长度的3.5%。为了增强信号强度,建议在测量之前通过强力永磁体对探针进行磁化。

如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 75 45 - 115
力常数 [N / m] 2.8 0.5 - 9.5
长度 [µm] 225 215 - 235
平均宽度 [µm] 28 20 - 35
厚度 [µm] 3 2 - 4
品质因数 30000 30000 - 50000
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
PPP-QLC-MFMR-10 10 of all probes
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