PPP-QNCHR

PointProbe® Plus - High Quality-Factor - Non-Contact/ Tapping Mode - High Resonance Frequency - Reflex Coating

新型PointProbe® Plus Q30K-Plus结合了久经考验的PointProbe®Plus系列的众所周知的功能,例如进一步减小并且重复性更高的探针半径(探针半径通常小于7nm)以及更清晰的探针形状以及在超高真空(UHV)条件下具有很高的机械品质因数(Q-factor)。在特高压条件下,品质因数通常超过35000,探测器侧的铝涂层提供了出色的分辨率和增强的信噪比。

NANOSENSORS™ PPP-QNCHR探针是为了用于特高压条件下的非接触模式或轻敲模式AFM(也称为吸引或动态模式)而设计的。由于其高Q-因数和PPP系列的典型功能,该AFM探针兼具高操作稳定性,出色的灵敏度和快速的扫描能力。

此探针具有独特的功能:

  • 保证探针的曲率半径<10nm
  • 探针高度为10-15µm
  • 高掺杂硅以消除静电荷
  • 悬臂梁检测器侧面的铝涂层
  • 化学惰性
  • 在超高压条件下具有出色的机械Q-因数,可实现高灵敏度

反射涂层是在悬臂梁的检测器侧大约30nm厚的铝涂层,可将激光束的反射率提高约2.5倍。此外,它防止了光在悬臂梁内的干涉。几乎无应力的涂层使悬臂梁弯曲得小于悬臂梁长度的2%。

如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 330 204 - 497
力常数 [N / m] 42 10 - 130
长度 [µm] 125 115 - 135
平均宽度 [µm] 30 22.5 - 37.5
厚度 [µm] 4 3 - 5
品质因数 30000 30000 - 50000
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
PPP-QNCHR-10 10 of all probes
NANOSENSORS™ PointProbe® Plus AFM Probes