| 属性 | 标称值 | 特定的范围 |
|---|---|---|
| 共振频率 [kHz] | 330 | 204 - 497 |
| 力常数 [N / m] | 42 | 10 - 130 |
| 长度 [µm] | 125 | 115 - 135 |
| 平均宽度 [µm] | 30 | 22.5 - 37.5 |
| 厚度 [µm] | 4 | 3 - 5 |
| 品质因数 | 30000 | 30000 - 50000 |
| 订购代码 | 每包AFM探针的数量 | 数据表 |
|---|---|---|
| PPP-QNCHR-10 | 10 | of all probes |
新型PointProbe® Plus Q30K-Plus结合了久经考验的PointProbe®Plus系列的众所周知的功能，例如进一步减小并且重复性更高的探针半径（探针半径通常小于7nm）以及更清晰的探针形状以及在超高真空（UHV）条件下具有很高的机械品质因数（Q-factor）。在特高压条件下，品质因数通常超过35000，探测器侧的铝涂层提供了出色的分辨率和增强的信噪比。
NANOSENSORS™ PPP-QNCHR探针是为了用于特高压条件下的非接触模式或轻敲模式AFM（也称为吸引或动态模式）而设计的。由于其高Q-因数和PPP系列的典型功能，该AFM探针兼具高操作稳定性，出色的灵敏度和快速的扫描能力。
反射涂层是在悬臂梁的检测器侧大约30nm厚的铝涂层，可将激光束的反射率提高约2.5倍。此外，它防止了光在悬臂梁内的干涉。几乎无应力的涂层使悬臂梁弯曲得小于悬臂梁长度的2％。
