PPP-FMAuD

PointProbe® Plus Force Modulation Mode - Au coating (Detector side)

PointProbe®Plus(PPP)结合了久经考验的PointProbe®系列的众所周知的功能,例如高度的应用多功能性以及与大多数商用SPM的兼容性,并进一步减小了探针的半径并使其具有更高的重复性,并且使探针的形状更加明确。探针半径通常小于7nm,并且探针形状的变化最小,可提供更可重复的图像和更高的分辨率。

NANOSENSORS™ PPP-FMAuD用于力调制显微镜。此AFM探针的力常数跨越了接触和非接触模式之间的间隙,并专门针对力调制模式进行了量身定制。此外,使用FM探针可以进行非接触或分接模式操作,但操作稳定性降低。.

此探针具有独特的功能:

  • 保证探针的曲率半径<10nm
  • 探针高度为10-15µm
  • 高掺杂硅以消除静电荷
  • 悬臂梁检测器侧面的金涂层
  • 化学惰性

金属层(金)涂覆在悬臂梁的检测器侧,该金属层将激光束的反射率提高了约2.5倍。此外,它防止了光在悬臂梁内的干涉。几乎没有应力的涂层使悬臂梁弯曲得小于悬臂梁长度的2%。

如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 75 45 - 115
力常数 [N / m] 2.8 0.5 - 9.5
长度 [µm] 225 215 - 235
平均宽度 [µm] 28 20 - 35
厚度 [µm] 3 2 - 4
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
PPP-FMAuD-10 10 of all probes
NANOSENSORS™ PointProbe® Plus AFM探针