PPP-FMAu

PointProbe® Plus Force Modulation Mode - Au coating

PointProbe®Plus(PPP)结合了久经考验的PointProbe®系列的众所周知的功能,例如高度的应用多功能性以及与大多数商用SPM的兼容性,并具有重复性的探针半径以及更明确的探针形状。探针形状的最小变化提供了更可重复的图像。

NANOSENSORS™PPP-FMAu用于力调制显微镜。此AFM探针的力常数跨越了接触和非接触模式之间的间隙,并专门针对力调制模式进行了量身定制。此外,使用FM探针可以进行非接触或轻敲模式操作,但操作稳定性降低。

此探针具有独特的功能:

  • 探针的金属导电性
  • 探针高度为10-15µm
  • 悬臂梁双侧的金涂层
  • 化学惰性

金属层(金)涂覆在悬臂梁的两侧。探针侧面涂层增强了探针的导电性并允许电接触-探针曲率半径通常小于50nm。检测器侧面涂层将激光束的反射率提高了2.5倍,并防止了光在悬臂梁内的干涉。涂层工艺已针对应力补偿进行了优化。由于应力导致的悬臂梁弯曲小于悬臂梁长度的3.5%。

请注意:如果在接触,摩擦或力调制模式下运行,则可能会出现探针磨损。

如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 75 45 - 115
力常数 [N / m] 2.8 0.5 - 9.5
长度 [µm] 225 215 - 235
平均宽度 [µm] 28 20 - 35
厚度 [µm] 3 2 - 4
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
PPP-FMAu-10 10 of all probes
NANOSENSORS™ PointProbe® Plus AFM探针