PPP-FM

PointProbe® Plus Force Modulation Mode

新型PointProbe®Plus(PPP)结合了久经考验的PointProbe®系列的众所周知的功能,例如高度的应用多功能性以及与大多数商业SPM的兼容性,并具有进一步减小和有重复性的探针半径以及更明确的探针形状。探针半径通常小于7nm,并且探针形状的变化最小,可提供更有重复性的图像和更高的分辨率。

FM型用于力调制显微镜。此AFM探针的力常数跨越了接触模式和非接触模式之间的间隙,并专门针对力调制模式进行了量身定制。 PPP-FM探针也可作为磁性涂层(MFM)的基础。此外,使用FM探针可以进行非接触或轻敲模式操作,但操作稳定性降低。

此探针具有独特的功能:

  • 保证探针曲率半径<10nm
  • 探针高度为10-15µm
  • 高掺杂硅以消除静电荷
  • 化学惰性
  • 高机械Q-因数可实现高灵敏度
  • 硅支架芯片背面的对准槽
  • 与对准芯片一起使用时,悬臂梁位置的精确对准(+/-2µm以内)
  • PointProbe® Plus XY-对准系列兼容

 

如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 75 45 - 115
力常数 [N / m] 2.8 0.5 - 9.5
长度 [µm] 225 215 - 235
平均宽度 [µm] 28 20 - 35
厚度 [µm] 3 2 - 4
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
PPP-FM-10 10 of all probes
PPP-FM-20 20 of all probes
PPP-FM-50 50
PPP-FM-W 380 of up to 32 probes
NANOSENSORS™ PointProbe® Plus AFM Probes