PointProbe® Plus Force Modulation Mode
新型PointProbe®Plus（PPP）结合了久经考验的PointProbe®系列的众所周知的功能，例如高度的应用多功能性以及与大多数商业SPM的兼容性，并具有进一步减小和有重复性的探针半径以及更明确的探针形状。探针半径通常小于7nm，并且探针形状的变化最小，可提供更有重复性的图像和更高的分辨率。
FM型用于力调制显微镜。此AFM探针的力常数跨越了接触模式和非接触模式之间的间隙，并专门针对力调制模式进行了量身定制。 PPP-FM探针也可作为磁性涂层（MFM）的基础。此外，使用FM探针可以进行非接触或轻敲模式操作，但操作稳定性降低。
此探针具有独特的功能：
- 保证探针曲率半径<10nm
- 探针高度为10-15µm
- 高掺杂硅以消除静电荷
- 化学惰性
- 高机械Q-因数可实现高灵敏度
- 硅支架芯片背面的对准槽
- 与对准芯片一起使用时，悬臂梁位置的精确对准（+/-2µm以内）
- 与PointProbe® Plus XY-对准系列兼容
