PPP-CONTAu

PointProbe® Plus Contact Mode - Au Coating

PointProbe®Plus(PPP)结合了久经考验的PointProbe®系列的众所周知的功能,例如高度的应用多功能性以及与大多数商用SPM的兼容性,并具有可重复的探针半径以及更明确的探针形状。探针形状的最小变化提供了更可重复的图像。

NANOSENSORS™ PPP-CONTAu探针是专为用于接触模式(排斥模式)AFM成像而设计的。此AFM探针还可用于力距光谱模式或脉冲力模式(PFM)。由于力常数低,CONT型针对高灵敏度进行了优化。

此探针具有独特的功能:

  • 探针的金属导电性
  • 探针高度为10-15µm
  • 悬臂梁两侧的金涂层
  • 化学惰性

金属涂层(金)涂覆在悬臂梁的两侧。探针侧面涂层增强了探针的导电性并允许电接触-探针曲率半径通常小于50nm。检测器侧面涂层将激光束的反射率提高了2.5倍,并防止了光在悬臂梁内的干涉。涂层工艺已针对应力补偿进行了优化。由于应力导致的悬臂梁弯曲小于悬臂梁长度的3.5%。

请注意: 如果以接触,摩擦或力调制模式运行,则可能会出现探针磨损。

如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 13 6 - 21
力常数 [N / m] 0.2 0.02 - 0.77
长度 [µm] 450 440 - 460
平均宽度 [µm] 50 42.5 - 57.5
厚度 [µm] 2 1 - 3
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
PPP-CONTAu-10 10 of all probes
NANOSENSORS™ PointProbe® Plus AFM Probes