DT-CONTR

Diamond Coated Tip - Contact Mode - Reflex Coating

NANOSENSORS™ DT-CONTR探针是专为用于接触模式(排斥模式)AFM成像而设计的。由于力常数低,CONT型针对高灵敏度进行了优化。 对于需要探针与样品之间硬接触的应用,此SPM探针提供了真正的金刚石探针侧面涂层。由于金刚石具有无与伦比的硬度,该涂层具有极高的耐磨性。宏观探针曲率半径通常在100至200nm之间。 10nm制程中的纳米粗糙度可改善在平坦表面上的分辨率。

此探针具有独特的功能:

  • 真正的金刚石涂层
  • 探针高度通常为10-15µm
  • 高机械 Q-因数可实现高灵敏度

DT金刚石涂层是在悬臂梁的探针侧面上约100nm厚的多晶金刚石涂层,可导致探针的硬度无与伦比。涂层的拉曼光谱验证了真实的金刚石涂层。

反射涂层是在悬臂梁的检测器侧大约30nm厚的铝涂层,可将激光束的反射率提高约2.5倍。此外,它防止了光在悬臂梁内干涉。几乎没有应力的涂层使悬臂梁弯曲不到悬臂梁长度的3.5%。

 

如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 20 11 - 29
力常数 [N / m] 0.5 0.1 - 1.7
长度 [µm] 450 440 - 460
平均宽度 [µm] 50 42.5 - 57.5
厚度 [µm] 2 1 - 3
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量 数据表
DT-CONTR-10 10 of all probes
DT-CONTR-20 20 of all probes
DT-CONTR-50 50
NANOSENSORS™ Diamond Coated PointProbe Plus Silicon AFM Probes