ATEC-FM

Advanced Tip at the End of the Cantilever™ Force Modulation Mode

NANOSENSORS AdvancedTEC™ FM AFM探针是专为用于力调制模式成像而设计的。它们具有从悬臂梁末端伸出的四面体探针。这种独特的功能可实现精确定位,并使AdvancedTEC™成为世界上唯一的可提供从顶部的真实探针能见度的AFM扫描探针,即使由于安装在AFM头上而使探针倾斜时也是如此。此功能使它们成为所有必须将探针精确放置在关注点上和/或必须可见的应用的最佳选择(例如,纳米操作)。

 由于其极小的半锥角,AdvancedTEC™系列的探针在具有小图案尺寸和陡峭样品特征的样品上显示出出色的性能。

此探针具有独特的功能:

  • 从顶部真正的探针能见度
  • 典型的探针曲率半径优于10nm
  • 探针高度为15-20µm
  • 单片硅
  • 高掺杂硅以消除静电荷
  • 化学惰性
  • 高机械Q-因数可实现高灵敏度
如何优化AFM扫描参数: list-img
悬臂梁数据:
属性 标称值 特定的范围
共振频率 [kHz] 85 50 - 130
力常数 [N / m] 2.8 0.7 - 9
长度 [µm] 240 230 - 250
平均宽度 [µm] 35 30 - 40
厚度 [µm] 3 2 - 4
订单代码和运输单位:
订购代码 每包AFM探针的数量
ATEC-FM-10 10
ATEC-FM-20 20
ATEC-FM-50 50
NANOSENSORS™ AdvancedTEC™ AFM Probes